国芯科技：新一代汽车电子离手检测触控MCU产品CCM4202S-O内部测试成功

国芯科技公告，公司研发的新一代汽车电子离手检测触控MCU产品CCM4202S-O在内部测试中获得成功。该芯片基于40nm EFLASH工艺开发和生产，集成32KB SRAM，512KB FLASH，4KB EEPROM(FLASH模拟），1路CAN总线控制器（CAN FD），1路LIN，1路UART，1路I2C，2路SPI，1个ADC（总计15通道），1个TSI（触控模块，总计16通道），2个PWMT和其他通用周边模块。该芯片按照汽车电子Grade2等级、功能安全ASIL-B等级进行设计和生产，具备高可靠性和高安全性，可以应用于苛刻的使用场景。